Serdecznie zapraszamy na praktyczne wykład poświęcony analizie związków lotnych z wykorzystaniem techniki SIFT-MS. Spotkanie będzie okazją do poznania podstaw metody oraz jej możliwości w analizie próbek gazowych. Podczas wykładu zaprezentowany zostanie Syft Tracer™ – nowoczesny system umożliwiający szybką detekcję i analizę substancji w czasie rzeczywistym. Omówione zostaną jego zastosowania m.in. w przemyśle, badaniach środowiskowych oraz badaniach klinicznych.
W programie znajdą się zagadnienia związane z przygotowaniem i analizą próbek, interpretacją wyników oraz praktycznym wykorzystaniem SIFT-MS. Uczestnicy będą mieli również możliwość pracy z systemem Syft Tracer™ i poznania jego funkcjonalności podczas części praktycznej. Na miejscu dostępni będą dr. Roman Joachimiak z Syft Technologies oraz Sebastian Witek, Inżynier Serwisu Altium International, którzy chętnie odpowiedzą na pytania uczestników.
Wykład dla studentów odbędzie się w dniu 23.10.2026 (piątek) w budynku Wydziału Inżynierii i Technologii Chemicznej PK, sala nr 3 w godz. 9:00 – 10:00. Zapraszamy.
